arrow_back
Retour aux plateformes

Osirix : Plate-forme de Diffraction de rayons X haute résolution et texture

OSIRIX

Description

Description de la plateforme

La plate-forme met à la disposition des utilisateurs, les services en personnel et les moyens techniques nécessaires à l'étude, en diffraction des rayons-X haute résolution et de texture, d’échantillons sous forme de couches minces et de poudres.


Pôles de recherche

Matériaux

Thématique scientifique principale

Sciences de la matière et ingénierie

Thématique(s) scientifique(s) secondaires

Énergie

Mots clés

Diffraction des Rayons X, Couches minces, Réflectométrie X, DRX, XRR, Figure de poles, Texture, Cartographie du réseau réciproque, Orientations préférentielles, epitaxie, rocking-curves, Contraintes résiduelles, Identification de phases cristalllines, Epaisseur, Rugosité, Densité


Compétences

Compétences / Expertises

Sciences des matériaux
Analyse structurale et micro-structurale

Détails des compétences

Caractérisation structurale de couches minces par diffraction des rayons X et réflectométrie de rayons X


Équipements et ressources

Équipements

Diffractométrie

Détails des équipements

Diffractomètre 5-cercles Smartlab Rigaku 3kW :

- Source des rayons X : tube Cu
- Détecteur : 0D-1D-2D à pixels hybride HyPix 2984 mm2
- Configuration : ?/? et bras in-plane
- Berceau : motorisé 3 axes et configuration 5 axes motorisés avec une platine motorisée X–Y
- Monochromateur : 2xGe(220) amovible (couches minces)
- Monochromateur : Johansson amovible (poudres)
- Module GIWAXS-GISAXS


Services

Services

  • Prestations de service
  • Collaboration de R&D

Offres de services

Osirix vous apporte son expertise sur :

- Identification de phases cristallisées dans une couche mince polycristalline (à partir de 10 nm d'épaisseur) et mesure des paramètres de maille par diffraction en incidence rasante (GID).
- Identification des orientations préférentielles de couches minces orientées et mesure des paramètres de maille hors du plan et dans le plan (2theta/omega scan et 2theta/phi scan in plane).
- Mesure de la mosaïcité hors du plan et dans le plan (rocking-curves, rocking-curve in-plane).
- Détermination des relations d’épitaxie entre une couche mince et un substrat (phi-scan).
- Détermination des contraintes d'épitaxie (cartographie du réseau réciproque dans et hors du plan).
- Détermination des textures d'une couche mince ou d'une tôle mince (figure de pôles).
- Détermination des états de contraintes résiduelles d’une couche mince orientée ou polycristalline (stress, méthode des sin2psi).
- Mesure d'épaisseur et de densité de couches minces stratifiées par réflectométrie des rayons X.
Identification de phases cristallisées dans une poudre


Public concerné par les services

  • Interne
  • Académiques
  • Entreprises, administrations, associations

Réalisations

Projets

- Etude de l'épitaxie de films minces (oxydes (KNbO3, LaSrMnO3, NiTiO3, SrVO3, ZnO, FeO, ..., sur substrats monocristallins; films minces semi-conducteurs sur Si).
- Identification de phases dans des films minces polycristallins (BiVO4, HfO2, TiO2, ...).
- Estimation de l'épaisseur, de la densité et de la rugosité de films minces (films de TiO2 synthétisés par Atomic Layer Deposition, films de platine déposés par pulvérisation cathodique, films de carbone amorphes, ...).

Ecosystème

Établissement principal

Etablissement universitaire - Université de Rennes


Établissement(s) secondaire(s)

  • Institut CNRS - CNRS

Contact
DEMANGE Valérie (Responsable scientifique)
Adresse
Platefome OSIRIX - UAR 2025 ScanMAT Université de Rennes - Campus de Beaulieu - Bâtiment 10B
263 avenue du Général Leclerc
RENNES
Suggérer une modification
Vous souhaitez effectuer une demande de modification des informations liées à cette entité ? Renseignez les champs concernés dans le formulaire ci-après.
Université de Rennes
Contactez-nous

Université de Rennes
Direction de la recherche et de l’innovation
2 rue du Thabor
CS 46510
35065 Rennes cedex

Privacy Preference Center