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THEMIS : Microscopie Électronique en transmission

THEMIS

Description

Description de la plateforme

L'étude de tous types de matériaux (couches minces, nanomatériaux, céramiques, verres, métaux, semi-conducteurs, polymères, etc) par Microscopie Electronique en Transmission (MET) est le coeur de l'expertise de THEMIS.
C'est une plateforme qui regroupe un Microscope Electronique en Transmission équipé de plusieurs appareils d'analyses et des appareils de préparation d'échantillons minces.
Son rôle est de contribuer à la réalisation de projets de recherche académiques ou industriels en fournissant des moyens d'investigations de la matière très performants ainsi que des compétences humaines.


Pôles de recherche

Matériaux

Thématique scientifique principale

Sciences de la matière et ingénierie

Thématique(s) scientifique(s) secondaires

Biologie, Santé, Agronomie, Alimentation
Sciences du système Terre et de l’environnement
Énergie

Mots clés

microscopie électronique, analyse chimique, détermination structure cristalline, imagerie filtrée en énergie (EFTEM), spectroscopie de perte d'énergie (EELS), EDS (Energy Dispersive Spectroscopy), imagerie haute résolution (HRTEM), précession électronique, tomographie, diffraction électronique, STEM, GIF, nanomatériaux, couches minces, amincisseur ionique, préparation d'échantillons minces


Compétences

Compétences / Expertises

Imagerie biologique
Analyse de composition chimique, biochimique et géochimique
Sciences des matériaux
Analyse structurale et micro-structurale

Détails des compétences

L'étude de tous types de matériaux (couches minces, nanomatériaux, céramiques, verres, métaux, semi-conducteurs, polymères, échantillons biologiques, etc) par Microscopie Electronique en Transmission (MET) est le coeur de l'expertise de THEMIS.


Équipements et ressources

Équipements

Imagerie
Microscopie

Détails des équipements

Microscope Électronique en Transmission Jeol JEM 2100 avec ses équipements connexes :
- Module de balayage STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy)
- Détecteurs JEOL BF/HAADF (Bright Field/ High Angle Annular Dark Field)
- Détecteurs GATAN BF/HAADF (Bright Field/ High Angle Annular Dark Field)
- Sonde EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) SDD (Silicon Drift Detector) Oxford 80 mm2
- GIF (Gatan Image Filter) : imagerie filtrée en énergie (EFTEM) et spectroscopie de perte d'énergie (EELS)
- Module de précession électronique Nanomégas Digistar

Caméras :
- Caméra CCD (Charge Coupled Device) Orius 200D : imagerie conventionnelle et diffraction
- Caméra CCD UltraScan 1000 : imagerie haute résolution
- Caméra CCD UltraScan 1000 en sortie de GIF : imagerie filtrée et EELS

Porte-objets (simple tilt standard, double tilt analytique, simple tilt traction, simple tilt double orientation tomographie)

Logiciels :
- GATAN Digital Micrograph (DGM) : analyse EDS, analyse EELS, reconstruction tomographique 3D, etc
- Aztec 2.2 : analyse EDS
- JEMS : simulation d'image haute résolution et de cliché de diffraction
- ADT3D : reconstruction 3D de clichés de diffraction

Équipements de préparations d'échantillons : polisseuses, tripode, scie à fil, scie à disque, carotteuse à ultrasons, amincisseur concave, amincisseur ionique, amincisseur électrolytique, microscopes optiques, évaporateur carbone et métalliseur, plasma cleaner, mesureur d'épaisseur et palmer.


Services

Services

  • Prestations de service
  • Collaboration de R&D
  • Formation

Offres de services

THEMIS offre trois types de services : l'analyse par Microscopie Electronique en Transmission, la préparation d'échantillons et des formations en analyse et/ou en préparation.

1/ Analyse par microscopie électronique en transmission.Le microscope JEOL 2100 et ses équipements connexes offrent une large gamme d'expériences possibles, dont :
- de l'imagerie conventionnelle en champs clairs / champs sombres, STEM-BF, STEM-HAADF
- de l'imagerie haute résolution
- de la diffraction électronique en axe de zone avec reconstruction du réseau réciproque
- de la diffraction électronique en tomographie couplée avec la technique de précession électronique pour la détermination de structure cristalline
- de la reconstruction 3D d'objet : tomographie en champ clair et en STEM-HAADF
- de l'imagerie filtrée en énergie (EFTEM)
- de l'analyse chimique (EDS ou EELS) ponctuelle, en ligne de profil ou cartographie, en mode TEM et STEM

2/ Préparation d'échantillons pour analyse MET par le personnel de la plateforme à partir de poudres, d'échantillons massifs ou de couches minces.

3/ Formations en analyse et/ou en préparation d'échantillons

La plateforme THEMIS dispose de ressources humaines (chargée de recherche, ingénieurs, technicienne) ayant les compétences requises en analyse par Microscopie Électronique en Transmission et en préparations de lames minces.


Modalités d'accès à la plateforme

https://scanmat.univ-rennes.fr/informations-sur-la-plateforme-themis


Public concerné par les services

  • Interne
  • Académiques
  • Entreprises, administrations, associations

Offres de formation

Formation des doctorants de l'Université de rennes en microscopie électronique en transmission et en préparation d'échantillons minces.



Réalisations

Projets

- Étude de nanoparticules
- Étude de la pérovskite NdBaMn2Ox
- Étude de la céramique ZnS
- Mise en évidence de surstructures et de macles dans les dérivés de pérovskite
- Reconstruction du réseau réciproque
- Étude de l'exsolution du Ni dans les dérivés de pérovskites
- Étude d'une céramique composite InSbSe3 incluse dans Sb2Se3
- Étude de billes de Ni déposées sur du Si
- Étude de nanostructures de Sr3V2O8 sur un film de SrVO3
- Étude des modes optiques de nanoparticules d'or
- Cartographie élémentaire de KCa2Nb3O10 - C3N4

Ecosystème

Établissement principal

Etablissement universitaire - Université de Rennes


Établissement(s) secondaire(s)

  • Institut CNRS - CNRS

Contact
DEMANGE Valérie (Responsable scientifique)
Adresse
263 avenue du Général Leclerc
Campus de Beaulieu - Bât. 10A - Pièces 051, 051/1, 044/1, 045/1 et 046
RENNES
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2 rue du Thabor
CS 46510
35065 Rennes cedex

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