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CMEBA : Centre de Microscopie Électronique à Balayage et microAnalyse

CMEBA

Description

Description de la plateforme

Le centre de microscopie électronique à balayage et microanalyse (CMEBA) est une plate-forme de microscopie électronique à balayage (MEB) de l'Université de Rennes1 créée en 1998.

La plate-forme regroupe des appareils de préparation d’échantillons et des microscopes électroniques à balayage, équipés des systèmes d’analyses chimique et microstructurale. Son rôle est de mettre à la disposition des utilisateurs, les services en personnel et les moyens techniques nécessaires à l'étude, en microscopie électronique à balayage et en microanalyse, d’échantillons diversifiés.

Les services du CMEBA sont ouverts à l’ensemble des laboratoires de l’Université de Rennes, des laboratoires publics et privés extérieurs, ainsi qu’aux entreprises.

Les utilisateurs s'engagent à mentionner dans leurs travaux, rapports ou publications l'origine des résultats qu’ils doivent à l’activité de la plate-forme.


Pôles de recherche

Matériaux

Thématique scientifique principale

Sciences de la matière et ingénierie

Thématique(s) scientifique(s) secondaires

Biologie, Santé, Agronomie, Alimentation
Sciences du système Terre et de l’environnement

Compétences

Compétences / Expertises

Imagerie biologique
Analyse de composition chimique, biochimique et géochimique
Sciences des matériaux
Analyse structurale et micro-structurale

Détails des compétences

L'expertise du CMEBA réside majoritairement dans :

Observation par microscopie électronique à balayage
Analyse de composition EDS (modes ponctuel, zone, profil, cartographie)
Analyse microstructurale par EBSD (cartographies)
Préparation d'échantillons (cross section polisher, séchage par point critique)
Formation théorique et pratique


Équipements et ressources

Équipements

Imagerie
Microscopie

Détails des équipements


JEOL JSM 7100 F EDS EBSD Oxford
MEB 7100F

Caractéristiques Techniques

- Source à émission de champ (SEM FEG) type Schottky
- Résolutions : 2nm à 1kV - 1.6nm à 5kV - 1.2nm à 15kV
- Courant de sonde de 1pA à 600nA
- Mesure de courant intégré
- Détecteur d'électrons secondaires type Everhart-Thornley
- Détecteur d'électrons rétrodiffusés aux faibles angles (SRBEI)
- Détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffusés in-lens
- Détecteur EDS SDD X-Max 50mm2 Oxford Instruments AZtecEnergy
- Détecteur EBSD AZtec HKL Advanced Nordlys Nano équipé de 4 détecteurs FSD couplé à l'EDS
- Date d'acquisition : 2013





JEOL IT 300 LA EDS pression variable

L'-IT300 LA est un MEB compact multi-applications qui permet de travailler sur tout type d'échantillons : biologiques, minéralogiques, métallurgiques, polymères…Cet appareil est également un outil Analytique il est équipé d’un système à dispersion d'énergie pour l’analyse élémentaire.L’imagerie MEB en pression variable (ou LV pour "low vacuum") permet d’observer des échantillons isolants sans métallisation préalable. Elle peut être utilisée pour des échantillons sensibles au vide ou que l’on ne souhaite pas altérer. Les images LV ont un contraste proche des images en électrons secondaires, mais les grandissements utilisés sont plus faibles. L’analyse chimique est possible mais de moins grande précision qu’avec des échantillons métallisés.

Caractéristiques Techniques:

- Source émission : filament de W
- Résolutions : 3nm à 30keV, 15nm à 1keV, 8nm à 3keV
- Détecteur d'électrons secondaires large angle solide
- Détecteur d'électrons rétrodiffusés: type NIP (brevet JEOL)
- Détecteur EDS SDD intégré dans le système
- Masse d'échantillon admissible dans le MEB : jusqu'à 2kg
- Dimensions maximales de l'échantillon : jusqu'à 200 mm de diamètre et 80 mm en hauteur
- Date d'acquisition : 2017


Métalliseur Or Carbone (LEICA)
Séchage par point Critique (LEICA)
Cross section polisher (JEOL)
Microscope keyence


Services

Services

  • Prestations de service
  • Formation

Offres de services

Observation par microscopie électronique à balayage d'échantillons variés
Imagerie analytique
Analyse de composition par spectrométrie des rayons X en dispersion d'énergie (EDS)
Analyse microstructurale par diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD)
Préparation (polissage, métallisation) d'échantillons de matériaux solides pour la microscopie électronique à balayage (MEB)
Préparation d'échantillons biologiques (séchage par la méthode du point critique lyophilisation, métallisation) pour observation en MEB et analyse EDS
« Expertise produit » pour des entreprises : conseils en analyses complémentaires pour répondre à des problématiques en lien avec la composition (ponctuelle, moyenne, cartographique, profil) et la structure des matériaux
Formation théorique et pratique à l'observation par MEB, à l'analyse EDS et initiation à la préparation des échantillons pour la MEB


Modalités d'accès à la plateforme

https://scanmat.univ-rennes.fr/le-cmeba


Offres de formation

Formation doctorant à l'utilisation du MEB et de l'analyse
Formation extérieure à l'utilisation du MEB


Réalisations

Projets

Etude de nanostructures de matériaux ferroélectriques
Imagerie analytique sur des échantillons intermétalliques
Analyse de microstructures d'alliages métallurgiques
Analyse de verres non conventionnels
Analyse de biomatériaux
Observation d'insectes
Etude de l'effet de cosmétiques sur des explants de peau
Observation de cellules cancéreuses

Ecosystème

Établissement principal

Etablissement universitaire - Université de Rennes


Contact
CHEVIRÉ François (Responsable scientifique)
Adresse
263 avenue du Général Leclerc
Campus de Beaulieu - Bat 10A
RENNES
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